JR∕T 0045.2-2014 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第2部分:借记∕贷记应用终端检测规范(金融)

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2021-12-23

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ICS 35.240.40,A 11,备案号:,中华人民共和国金融行业标准,JR,JR/T 0045.2—2014,代替JR/T 0045.2—2008,中国金融集成电路(IC)卡检测规范,第2 部分:借记/贷记应用终端检测规范,China financial integrated circuit card test specifications—,Part 2: Debit/Credit terminal test specification,2014-07-30 发布 2014-07-30 实施,中国人民银行 发布,JR/T 0045.2—2014,目 次,前言. I,引言 II,1 范围.. 1,2 规范性引用文件. 1,3 术语和定义.. 1,4 符号和缩略语 4,5 总体要求. 7,6 电特性和通讯协议的测试案例. 7,6.1 一般要求 7,6.2 机械性测试(JXCS).. 7,6.3 电特性测试(DXCS).. 8,6.4 卡片操作过程测试(CZGC). 12,6.5 复位应答(FWYD) 14,6.6 协议测试:T=0(XYCS). 34,6.7 协议测试:T=1(XYCS). 42,6.8 终端传输层(ZDCS). 70,7 借记贷记应用的测试案例. 73,7.1 数据元和命令(YSML).. 73,7.2 应用选择(YYXZ).. 112,7.3 安全方面(AQFM).. 126,7.4 数据对象(SJDX).. 250,7.5 认可的加密算法(JMSF).. 253,7.6 金融交易接口文件(JKWJ) 255,7.7 交易过程中使用的功能(SYGN) .. 261,7.8 生成应用密文命令编码(SCMW) .. 351,7.9 IC 卡中错误和缺少的数据(CQSJ) .. 355,7.10 终端总体要求(ZTYQ) 376,7.11 软件体系结构(TXJG) 399,7.12 持卡人和商户界面(CSJM).. 400,7.13 终端数据元的编码(YSBM).. 413,7.14 命令语法(MLYF). 414,7.15 综合测试(ZHCS). 423,7.16 补充测试(BCCS). 443,7.17 安全方面—国际算法补充测试(R-AQFM) .. 447,7.18 安全方面—国密算法(SM-AQFM) 447,8 基于借记贷记的小额支付应用的测试案例. 540,8.1 应用选择(P2EA).. 540,8.2 初始化应用(P2EB) 541,8.3 脱机数据认证(国际算法)(P2EC) 544,8.4 脱机数据认证(国密算法)(SM-P2EC) 545,8.5 处理限制(P2ED).. 546,8.6 持卡人认证(P2EE) 548,8.7 终端风险管理(P2EF). 550,JR/T 0045.2—2014,8.8 终端行为分析(P2EG). 552,8.9 发卡行脚本处理(P2EH).. 559,8.10 其他情况(P2EI). 561,JR/T 0045.2—2014,I,前 言,JR/T 0045 《中国金融集成电路(IC)卡检测规范》 分为5个部分:,——第1 部分:借记/贷记应用卡片检测规范;,——第2 部分:借记/贷记应用终端检测规范;,——第3 部分:借记/贷记应用个人化检测规范;,——第4 部分:非接触卡片检测规范;,——第5 部分:非接触终端检测规范,本部分为JR/T 0045的第2部分,本部分按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草,本部分代替JR/T 0045.2—2008《中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第2部分:借记,/贷记应用终端检测规范》,本部分与JR/T 0045.2—2008相比主要变化如下:,—— 修改了标准的前言;,—— 修改了测试案例的案例编号;,—— 删除了对DDF 的描述和与DDF 相关的测试案例、金额与PIN 的输入过程相关的测试,案例和旧的终端随机数测试案例;,—— 修改了PPS 案例测试案例和SDA 相关测试案例;,—— 增加了支持再同步终端测试案例、异常情况测试案例、兼容性测试案例、应用选择,测试案例、4 种CDA 模式测试案例、国密算法测试案例、电子现金终端测试案例、,新的终端随机数测试案例、圈存日志测试案例和不支持脱机密文PIN 情况的测试案,例;,—— 对原标准在文字描述上的勘误做出修正,本部分由中国人民银行提出,本部分由全国金融标准化技术委员会(SAC/TC180)归口,本部分主要起草单位:中国人民银行、中国银联股份有限公司、银行卡检测中心、捷德,(中国)信息科技有限公司、金雅拓科技(北京)有限公司、中国金融电子化公司,本部分主要起草人:王永红、李晓枫、陆书春、潘润红、杜宁、李兴锋、陈则栋、李新、,汤沁莹、齐大鹏、李春欢、刘志刚、张永峰、余沁、李乃珊、胡盖、于虹、陆洋、王二军、,张跃、金自荣、黄海龙、高大伟、程晋疆、周权、陈莹、冯欢、张艳,本部分于2008年首次发布,本次为第一次修订,JR/T 0045.2—2014,II,引 言,本部分的主要依据是JR/T 0025.3、JR/T 0025.4 和JR/T 0025.6,在此基础上制定了,中国金融集成电路(IC)卡借记/贷记应用终端的相关检测案例,JR/T 0045.2—2014,1,中国金融集成电路(IC)卡检测规范,第2 部分:借记/贷记应用终端检测规范,1 范围,本部分从终端检测角度描述了借记/贷记交易流程的要求,包括终端硬件需求、终端内,部处理细节、终端使用数据元、终端支持指令集等,本部分适用于支持JR/T 00……

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